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靖江中諾儀器有限公司為EPK中國(guó)總代理，歡迎來電洽談！
新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位。
**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的**性
- 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest720/730/740優(yōu)點(diǎn)一覽
SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加**
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
- 生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高**度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件
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德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest720/730/740技術(shù)參數(shù)
主機(jī)
|
主機(jī)型號(hào) |
MiniTest720 |
MiniTest730 |
MiniTest740 |
|
|
探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
|
|
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
|
|
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 |
*多10,000個(gè) |
*多10,000個(gè) |
*多100,000個(gè) |
|
|
統(tǒng)計(jì)值 |
讀值個(gè)數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) |
|||
|
校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 |
ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
|||
|
校準(zhǔn)模式 |
出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
|||
|
極限值監(jiān)控 |
聲、光報(bào)警提示超過極限 |
|||
|
測(cè)量單位 |
μm，mm，cm；mils，inch，thou |
|||
|
數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0(紅外接口) |
|||
|
電源 |
2節(jié)AA電池 |
|||
|
標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 |
|||
|
操作溫度 /存放溫度 |
- 10℃~60℃/- 20℃~70℃ |
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|
體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
|||
|
重量 |
約175g |
約210g |
約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
|
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest720/730/740技術(shù)參數(shù)
|
探頭特性 |
F1.5，N07，F(xiàn)N1.5 |
F2 |
F5，N2.5，F(xiàn)N5 |
F15 |
|||
|
F |
N |
F |
F |
N |
F |
||
|
測(cè)量范圍 |
0~1.5mm |
0~0.7mm |
0~2mm |
0~5mm |
0~2.5mm |
0~15mm |
|
|
使用范圍 |
小工件，薄涂層 |
粗糙表面 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 |
厚涂層 |
|||
|
測(cè)量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
|
|
信號(hào)處理 |
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) |
||||||
|
**度 |
±(1μm+0.75%讀值) |
±(1.5μm+0.75%讀值) |
±(5μm+0.75%讀值) |
||||
|
重復(fù)性 |
±(0.5μm+0.5%讀值) |
±(0.8μm+0.5%讀值) |
±(2.5μm+0.5%讀值) |
||||
|
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
||||
|
*小曲率半徑(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
||||
|
*小曲率半徑 |
(凹，外置探頭) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
|
(凹，內(nèi)置探頭) |
30mm |
30mm |
30mm |
||||
|
*小測(cè)量面積 |
?5mm |
?10mm |
?25mm |
||||
|
*小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
|
|
連續(xù)模式下測(cè)量速度 |
每秒20個(gè)讀數(shù) |
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單值模式下*大測(cè)量速度 |
每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
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